缺陷生命周期控制方法-在软件测试管理系统i-Test 2.0中的运用

关键字：软件缺陷、软件测试

        世间万物都有着自己的生命历程，软件缺陷也是一样。在软件测试过程中每发现一个软件缺陷，就标志着它的“诞生”。一个软件缺陷从它产生到终结的过程，我们称之为缺陷生命周期。软件测试管理的一个核心内容就是对软件缺陷生命周期进行管理。软件缺陷生命周期控制方法是在软件缺陷生命周期内设置几种状态，测试员、程序员、管理者从每一个缺陷产生开始，通过对这几种状态的控制和转换，管理缺陷的整个生命历程，直至它走入终结状态。
        缺陷生命周期控制方法已在西方IT企业的软件测试管理中运用多年，而在我国一些软件企业还鲜为人知。中科软件股份有限公司开发的软件测试管理系统i-Test 2.0(以下简称i-Test)引进了这种方法，结合Internet网和数据库的使用，实现了缺陷生命周期控制和管理。
        缺陷生命状态的定义:
        i-Test对于每一个软件缺陷都规定了6个生命状态：Open、Working、Verify、Cancel、Close、Defer，它们的基本定义是：
        Open态---缺陷初试状态，软件测试员报告一个缺陷，缺陷生命周期开始；

原文转自：http://www.ltesting.net