魏亮
在设备测试中通常会牵涉到下面几个基本概念:
测试事件(TE):从被测试设备应当遵守的规范中提取出来的,表现为一些定时关系和数据匹配限制。
测试例(TC):完成一个测试目的的一组测试事件的序列。
测试套件(TS):指针对一个指定规范的一组测试案例。
控制观察点(PCO):通常由两个先入先出(FIFO)队列组成,其功能类似于一对输入输出端口:向队列一端发送命令,从同一队列的另一端接收应答信号。
被测系统(SUT):System Under Test。
被测实体(DUT):Item Under Test。
上测试器(UT):通过位于被测试实体上层的PCO与被测试层交互的测试系统称为上层测试系统。
下测试器(LT):通过位于被测试实体下层的PCO与被测试层交互的测试系统称为下层测试系统。
抽象测试方法(单方测试)一般可以分为以下几种:本地测试法、分布测试法、协同测试法和远端测试法。各种测试法分别如下图所示。
并发测试如下图所示:
图3:并发测试结构
各种测试方法的区别主要在于上下测试器的位置以及PCO的位置,可以分别适用于以后的测试分类文章中。
图中名词解释:
ASP(abstract service primitives):抽象服务原语。
PDU(protocol data units):协议数据单元。
IUT(implementation under test )被测实现。
PCO(points of control and observation)观察控制点。