手机名片薄(黑盒)测试(3)

　　5.2 失败测试

　　根据手机名片簿的实际情况，通过某些方式或方法迫使软件出错。在测试案例的设计中仍按重复测试，压迫测试以及重负测试这三种测试理念进行测试。

　　5.2.1 重复测试

　　1)添加

　　a)在待机状态下连续添加电话号码，并保存至SIM卡/手机，操作次数大于40次;

　　b)添加菜单内连续添加电话号码，并保存至SIM卡/手机，操作次数大于40次。

　　2)删除

　　a)电话簿列表下，连续逐条删除电话号码;

　　b)在保证SIM卡/ 手机容量满的情况下，连续删除SIM卡/手机全部记录，在进行手机全部内容复制到SIM卡上的操作。操作次数大于20次。

　　3)查找

　　根据手机的实际功能，进行连续性查找。查找次数大于20次。

　　4)修改

　　a)连续逐条将记录修改成同一内容的记录，操作次数大于5;

　　b)连续逐条修改记录，将姓名栏内的内容修改至最大，并将电话号码号码修改至最大。操作次数大于20次。

　　说明：在这里涉及到操作次数的问题，操作次数过大或过小，都会失去它的实际意义。操作次数定义在40次，是根据SIM卡的容量定义的，通常SIM卡的容量是在70左右。连续删除SIM卡/手机的全部记录的20次操作，测试目的是检验内存是否溢出或不足。这项操作也可以定义成50次，甚至更多。即使检测出软件存在问题，但是进行软件更改的成本就会更高，甚至造成代码引入的BUG，总体来讲，得不偿失。

　　5.2.2 压迫测试

　　压迫测试是指软件再不够理想的条件下运行——内存小，磁盘空间少，CPU速度慢等等。

　　从经验来看，压迫测试和重复测试相结合，测试的效果比较好。在名片夹中主要是要注意SIM卡容量和手机容量的关系。有部分SIM卡的容量比较大，在200，250条甚至更高。在测试过程中，主要主意的一个问题就是尽量在SIM卡和手机容量慢的情况下进行添加，删除，修改，查找等操作。另一点就是操作的次数不能太少，也尽量不要太大。

　　5.2.3 重负测试

　　举例几个例子：比如如插上充电器;在低电压时，插上充电器;电池容量满后，继续充电并测试等等。

　　5.2.4 其它

　　在这里，仅仅举几个测试用例。

　　1)在名片簿列表下，连续按方向键，进行读取列表;

　　2)在名片簿列表下，快速插拔充电器;

　　3)输入非正常字符进行存储。

　　上述用例的目的就是在模仿用户在使用过程中容易或非正常情况下出现的问题。

　　5.3 集成测试

　　根据软件需求，检查名片簿与那部分模块相关。例如呼叫(直接呼叫，IP呼叫，三方通话)，MMS，短消息等等

　　在这里针对名片簿的测试，采用的是增值式集成测试。通过名片簿与其它模块的相关关系，检测测试名片簿与相关模块在接口上是否存在BUG。在测试过程中，首先测试是否满足基本功能，其实是多次反复调用相关模块，检验模块接口是否有问题存在。

原文转自：http://www.uml.org.cn/Test/200603283.htm