魏亮
在设备测试中通常会牵涉到下面几个基本概念：
测试事件（TE）：从被测试设备应当遵守的规范中提取出来的，表现为一些定时关系和数据匹配限制。
测试例（TC）：完成一个测试目的的一组测试事件的序列。
测试套件（TS）：指针对一个指定规范的一组测试案例。
控制观察点（PCO）：通常由两个先入先出（FIFO）队列组成，其功能类似于一对输入输出端口：向队列一端发送命令，从同一队列的另一端接收应答信号。
被测系统（SUT）：System Under Test。
被测实体（DUT）：Item Under Test。
上测试器（UT）：通过位于被测试实体上层的PCO与被测试层交互的测试系统称为上层测试系统。
下测试器（LT）：通过位于被测试实体下层的PCO与被测试层交互的测试系统称为下层测试系统。
抽象测试方法（单方测试）一般可以分为以下几种：本地测试法、分布测试法、协同测试法和远端测试法。各种测试法分别如下图所示。
并发测试如下图所示：
图3：并发测试结构
各种测试方法的区别主要在于上下测试器的位置以及PCO的位置，可以分别适用于以后的测试分类文章中。
图中名词解释：
ASP（abstract service primitives）:抽象服务原语。
PDU（protocol data units）：协议数据单元。
IUT（implementation under test ）被测实现。
PCO（points of control and observation）观察控制点。
文章来源于领测软件测试网 https://www.ltesting.net/
