• 软件测试技术
  • 软件测试博客
  • 软件测试视频
  • 开源软件测试技术
  • 软件测试论坛
  • 软件测试沙龙
  • 软件测试资料下载
  • 软件测试杂志
  • 软件测试人才招聘
    暂时没有公告

字号: | 推荐给好友 上一篇 | 下一篇

SPC统计过程控制—控制图

发布: 2008-7-11 11:07 | 作者: 不详 | 来源: CSDNBlog | 查看: 332次 | 进入软件测试论坛讨论

领测软件测试网

P图和nP图(离散数据的不合格数)

  P图是一种计数型控制图,它绘制的是每个样本的不合格品率。每个分组样本可以有相同的样本量或者不相同的样本量。此图通用性最强,在计数型控制图中用途最广。P图一般需要较大的样本容量。质量越好,那么要检测出过程失控就需要越大的分组样本。(记录每天的焊点数和焊点的不良个数,焊点数为分组样品每天是可以不同的。)nP图:是一种计数型控制图,它绘制的是每个分组样本中的不合格品数。每个分组样本必须有相同的样本量或者各个样本量足够相似可以看作相等。

  C图和U图(离散数据的缺陷数)

  C图是一种计数型控制图,它绘制的是每个样本中的缺陷数(不符合性)。当所有样本具有相同的样本量时,C图便是一种很实用的选择。U图:是一种计数型控制图,它绘制的是每个样本中的单位平均缺陷数,即描述了样本数变化时每个单元的缺陷数。这里要注意不合格数和缺陷数的区别,不合格品数是针对样本本身来说的 (要么合格,要么不合格);缺陷数是针对样本内部的,说明样本的符合性,而不是针对样本本身。

延伸阅读

文章来源于领测软件测试网 https://www.ltesting.net/

22/2<12

关于领测软件测试网 | 领测软件测试网合作伙伴 | 广告服务 | 投稿指南 | 联系我们 | 网站地图 | 友情链接
版权所有(C) 2003-2010 TestAge(领测软件测试网)|领测国际科技(北京)有限公司|软件测试工程师培训网 All Rights Reserved
北京市海淀区中关村南大街9号北京理工科技大厦1402室 京ICP备10010545号-5
技术支持和业务联系:info@testage.com.cn 电话:010-51297073

软件测试 | 领测国际ISTQBISTQB官网TMMiTMMi认证国际软件测试工程师认证领测软件测试网