一个自上而下的测试策略成本将高于基于分离的测试策略，这取决于顶层单元下层单元的复
杂程度，以及由于下层单元自身发生变化所带来的显著影响。对于单元测试来说自上而下的
组织方法不是一个好的选择。然而，当各个组成单元已经被单独测试的情况下，用自上而下
法进行单元的集成测试是个不错的手段。
三、自下而上法
1. 详述
在自下而上的单元测试中，被测单元与调用被测单元的单元是分开测试的，但是测试时所使
用的是真实的被调用单元。测试时最底层的单元首先被测试，这样就方便了对高层次单元的
测试。然后使用前面已经被测试过的被调用单元来测试其他的单元。重复这个过程直到最高
层的单元被测试为止。自下而上法需要测试驱动，但是不需要测试桩。图3.1 说明了测试D
单元时需要的测试驱动和已测单元的情况，假设单元E、F、G、H、I 和J 已经通过自下而上
法进行了测试。
图3.1 自下而上测试法
图3.1 显示了一个程序的单元测试的测试计划，该计划使用了基于自下而上的组织方法，其
过程如下：
步骤(1)
(注意在测试步骤中测试的顺序不是最主要的，步骤1 中的所有测试可以同
步进行)测试单元H，在调用H 单元的E 单元处使用一个测试驱动;测试单元I，在调用I 单
元的E 单元处使用一个测试驱动;
测试单元J，在调用J 单元的E 单元处使用一个测试驱动;
测试单元F，在调用F 单元的D 单元处使用一个测试驱动;
测试单元G，在调用G 单元的D 单元处使用一个测试驱动;
测试单元B，在调用B 单元的A 单元处使用一个测试驱动;
测试单元C，在调用C 单元的A 单元处使用一个测试驱动;
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