法进行了测试。由图2.1 得到的是一个使用基于自上而下组织方法的单元测试计划，其过程
可以描述如下：
步骤1：测试A 单元，使用B，C，D 单元的桩模块。
步骤2：测试B 单元，通过已测试过的A 单元来调用它，并且使用C，D 单元的桩模块。
步骤3：测试C 单元，通过已测试过的A 单元来调用它，并且使用已通过测试的B 单元和D 单
元的桩模块。
步骤4：测试D 单元，从已测试过的A 单元调用它，使用已测试过的B 和C单元，并且将E，F
和G 单元用桩模块代替。(如图2.1 所示)
步骤5：测试E 单元，通过已测试过的D 单元调用它，而D 单元是由已通过测试的A 单元来调
用的，使用已通过测试的B 和C 单元，并且将F，G，H，I和J 单元用桩模块代替。
步骤6：测试F 单元，通过已测试过的D 单元调用它，而D 单元是由已通过测试的A 单元来调
用的，使用已通过测试的B，C 和E 单元，并且将G，H，I和J 单元用桩模块代替。
步骤7：测试G 单元，通过已测试过的D 单元调用它，而D 单元是由已通过测试的A 单元来
调用的，使用已通过测试的B，C 和F 单元，并且将H，I 和J 单元用桩模块代替。
步骤8：测试H 单元，通过已测试过的E 单元调用它，而E 单元是由已通过测试的D 单元来调
用的，而D 单元是由已通过测试的A 单元来调用的，使用已通过测试的B，C，E，F，G 和H
单元，并且将J 单元用桩模块代替。
步骤9：测试J 单元，通过已测试过的E 单元调用它，而E 单元是由已通过测试的D 单元来调
用的，而D 单元是由已通过测试的A 单元来调用的，使用已通过测试的B，C，E，F，G，H
和I 单元。
图2.1 自上而下法
2. 优点
自上而下单元测试法提供了一种软件集成阶段之前的较早的单元集成方法。实际上，自上而
下单元测试法确实将单元测试和软件集成策略进行了组合。单元的详细设计是自上而下的，
自上而下的测试实现过程使得被测单元按照原设计的顺序进行，因为单元测试的详细设计与
软件生命周期代码设计阶段的重叠，所以开发时间将被缩短。在通常的结构化设计中，高等
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