样例1：Opendate里的触发
在我们的案例项目中，当绘制“Opendate内部触发的总次数”图表（参见图5）时，我们可以发现在功能测试阶段之后出现了一些覆盖缺陷。造成这种缺陷可能有两种原因。原因之一是测试效率不够高，原因之二是重新修复或重写代码不够理想。因此接下来在我们不得不研究“触发与组件”以及“限定符与组件”的图表，从而找出真正的原因。
图5：我们可以看到一些覆盖缺陷（灰色标明的）是在功能测试之后发生的
发布: 2007-6-12 19:06 | 作者: Yang Gu | 来源: IBM | 查看: 420次 | 进入软件测试论坛讨论
样例1：Opendate里的触发
在我们的案例项目中，当绘制“Opendate内部触发的总次数”图表（参见图5）时，我们可以发现在功能测试阶段之后出现了一些覆盖缺陷。造成这种缺陷可能有两种原因。原因之一是测试效率不够高，原因之二是重新修复或重写代码不够理想。因此接下来在我们不得不研究“触发与组件”以及“限定符与组件”的图表，从而找出真正的原因。
图5：我们可以看到一些覆盖缺陷（灰色标明的）是在功能测试之后发生的