关键字：软件测试知识帖
第71贴【2004－7－30】：SQA的职责 SQA的职责
1、组织和协调产品开发组内部的软件技术和开发标准、流程的培训和教育
2、部门的和特定产品的软件开发过程度量（Metrics）以及软件产品质量的度量（Metrics）
3、指出产品开发过程中应该遵循的有关软件开发的标准和流程，并监督开发过程对标准和流程的符合度；
4、软件质量管理，采用Inspection，Review和Audit技术
5、通过软件开发流程及标准的推行以及对软件开发过程的不断总结和优化，使软件开发过程得到持续不断的优化和提高
第72贴【2004－7－31】：验证与确认
在广义上，软件测试是验证和确认VERFICATION AND VALIDATION （V﹠V〕。验证指保证软件正确地实现了一特定功能的一系列活动。确认是指保证所生产的软件可追溯到用户需求的一系列活动。BOEHM对V﹠V的解释是：
VEIFICATION：“Are we building the product right?"
VALIDATION: " Are we building the right product?"
V&V的过程包含了许多内容和活动，如：
软件工程方法提供了质量建立的基础；
分析、设计和编码方法通过提供统一的技术和可预测的结果来提高质量；
正规检视和评审有助于保证软件工程各个阶段产品的质量；
度量和控制被应用到软件配置的每一个部件中；
标准和过程有助于保证开发的一致性；
一个正规的 SQA过程加强整体质量；
测试是保证质量的最后一道措施。但是不能把测试看作一个安全网。质量是贯穿于软件过程的每一个阶段。因此尽管测试在V&V中起着非常重要的作用，但是许多其它活动也是必要的。为了提高软件的全员质量，应该重视V&V中的每一个活动。
第73贴【2004－8－2】：可测试性技术的产生
可测试性的概念最早产生于航空电子领域。较早的航空电子设备的测试过程通常采用以分析输入/输出端口为主的“黑箱”方式进行。随着电子设备功能和结构日益复杂，可靠性、维修性要求日益增高，“黑箱”方法已越来越难以满足需求。为此，要求测试人员以更积极的方式介入测试过程，不仅要承担传统测试中激励生成者和响应分析者的角色，而且要成为整个测试过程的主导者和设计者，通过改善被测试对象的设计使其更便于测试，即提高被测对象的可测试性。这种可测试性的思想和概念最早由F.Liour等人于1976年提出。随后，美国国防部相继颁布了MIL-STD-471A通告II--《设备或系统的机内测试、外部测试、故障隔离和可测试性特性要求的验证及评价》、MIL-STD-470A--《系统及设备维修性管理大纲》、MIL-STD-2165--《电子系统及设备的可测试性大纲》等一系列与可测试性相关的标准规范。其中，MIL-STD-2165可测试性大纲将可测试性作为与可靠性及维修性等同的设计要求，并规定可测试性分析、设计及验证的要求及实施方法，该标准的颁布标志着可测试性作为一门独立学科的确立。
可测试性概念提出后，相继用于电子产品诊断电路设计及研究等各个领域。可测试性技术不仅对维修性设计特性产生重大的影响，而且影响到系统的效能及全寿命周期费用。
第74贴【2004－8－3】：可测试性的内涵
1、可测试性描述了测试信息获取的难易程度
可测试性包括两方面的含义：一方面，便于对软件的内部状态进行控制，即所谓的可控性；另一方面，能够对软件的内部状态进行观测，即可观测性。实际上，可控性和可观测性所描述的就是对软件进行测试时信息获取的难易程度。传统的“黑箱”功能测试方法的根本缺陷就在于它难以获取有效表征被测对象内部状态的信息。
2、可测试性是软件本身的一种设计特性
同可靠性（reliability ）一样，可测试性也是软件本身所固有的一种设计特性。软件的可测试性并不是可测试性设计所赋予的，软件一旦设计生产出，本身就具备了一定的可测试性。正如可靠性可以通过MTBF等可靠性指标度量一样，可测试性也可以通过可控性、可观测性指标来度量。要改善软件的可测试性指标，必须在软件设计阶段就进行良好的可测试性设计。
3、可测试性技术的最终目标是提高软件的质量和可靠性，降低全寿命周期费用
降低软件的费用，追求软件的高质量是工业界的永恒主题。目前，单纯合格与否的传统质量标准已转变为综合了性能指标、可靠性及可用性（availability）指标要求的“完整质量”概念，而传统的仅考虑软件设计和生产费用的产品费用则被“全寿命周期费用”的概念所替代。全寿命周期费用包括软件整个生命周期中从概念形成到报废处理全过程的费用。
可测试性技术的应用可以极大地提高软件的“完整质量”，降低其全寿命周期费用。一方面，在软件设计阶段，可以对软件设计原型进行虚拟测试，验证设计方案，排除可能的设计缺陷；在生产阶段，可以对软件进行全面的测试，排除软件的潜在故障，从而降低使用过程中的故障率，提高其质量和可靠性；另一方面，可测试性技术可以缩短软件研制、试验和评价的周期，降低软件的研制费用，提高软件的可用性指标，减少软件的维护和保障费用，从而降低软件的全寿命周期费用
第75贴【2004－8－4】：可测试性度量
要提高产品的可测试性，首先要对产品的可测试性水平进行描述，也就是进行可测试性度量。可测试性度量方法需满足精确性和简单性两个要求。所谓精确性是指可测试性度量方法能准确地预计产品测试程序生成的困难，并且定位到产品的某一部分，从而便于对产品设计进行更改。而简单性要求则是指度量可测试性的计算量应小于测试程序生成的计算量，否则，可测试性度量方法就会失去实际的应用意义。
第76贴【2004－8－5】：可测试性机制的设计与优化
可测试性机制的设计与优化
可测试性设计的过程就是将某种能方便测试进行的可测试性机制引入到软件中，提供获取被测对象内部测试信息的渠道。显然，合理、有效的设计可测试性机制是成功提高软件可测试性水平的基础。可测试性机制的引入可以提高系统的可测试性指标，降低软件的全寿命周期费用，但同时也会在一定程度上提高软件的成本。因此，综合权衡可测试性机制的性能和费用，进行可测试性机制的优化设计是可测试性技术能否成功应用的另一个重要因素。
第77贴【2004－8－6】：测试信息的处理与故障诊断
为了实现提高软件质量和可靠性，降低系统全寿命周期费用的目标，要求可测试性技术能够方便、快捷地获取有关被测软件状态的信息，确定软件工作正常与否、性能是否良好、是否存在故障以及存在何种故障，以便于采取调整设计、排除故障、更换备件等后续行为。
在对复杂的对象进行测试时，难点往往不在于如何获取测试信息，而在于如何对所获取的大量信息进行处理。例如：对于一个具有N个测点的数字电路而言，所能获取的测试信息的总量为N*2N位，随着N的增大，测试信息总量呈指数增长。显然，能否对所获取的测试信息进行有效处理并对可能存在的故障进行精确诊断，是可测试性技术成功应用的关键。
第78贴【2004－8－9】：特定目标可测试性设计
第一代可测试设计技术：特定目标可测试性设计
第一代可测试性设计技术以外部测试和特定目标可测试性设计方法为基础。特定目标可测试性设计是指：针对特定功能和结构进行可测试性预计，判断其是否符合可测试性要求，若不满足，通过改善设计方案来提高其可测试性，直至满足要求。特定目标可测试性设计主要采用外部测试方法，测试向量的输入和测试响应的输出均通过被测设备的输入/输出端口进行操作，对被测对象内部节点的控制和观测则采用以在线（in-line）测试技术。其主要缺点如下：
(1) 设计同系统的具体功能和结构紧密相关，对较复杂的系统进行设计的难度大、周期长；
(2) 难以实现并行测试；
(3) 需要专用测试接口和测试工具，成本高；
(4) 随着系统的复杂，采用监控测试方法的适用范围日益减小。
目前，特定目标可测试性设计已逐渐被其他的可测试性技术所代替。尽管如此，对于复杂程度较低的而言，特定目标可测试性设计方法仍然是一种不可或缺的方法。
第79贴【2004－8－10】：基于扫描设计的结构化设计
第一代可测试设计技术：基于扫描设计的结构化设计
我们知道，要完成某种系统功能可以采用不同的结构实现。传统的设计思想是尽量选用较为紧凑和简化的结构。然而，由于可测试性同系统的的结构密切相关，上述方法在设计中没有充分考虑结构对系统可测试性的影响，所设计出的系统的可测试性往往较差，将极大地增加可测试性改善设计的难度，这正是特定目标可测试性设计方法的根本缺陷。
结构化可测试性设计是一种新的可测试性设计策略，其主要思想是：从可测试性的观点出发，对结构结构提出一定的设计规则，使得所设计的产品更容易测试。结构化可测试性设计通常采用扫描设计的方法进行，有多种具体的实施方法，包括：扫描设计、扫描通路、扫描置位，等等。它依然存在如下的缺点：
(1) 可测试性设计的过程仍较复杂，设计周期较长，成本较高；
(2) 主要采用外部测试的方法，自动化程度不够，成本仍然较高；
(3) 不同的产品设计厂家采用不同的设计方法，相互之间不兼容，产品的维修性较差。
第80贴【2004－8－11】：基于边界扫描机制的标准化设计
第三代可测试性设计技术：基于边界扫描机制的标准化设计
鉴于结构化可测试性设计方法的一些缺点，有必要开发一种更为简单的、标准化的可测试性设计方法。为此，从1986～1988年，以欧洲和北美会员为主的联合测试行动组织（JTAG：joint test action group）率先开展了边界扫描技术的研究，提出了一系列边界扫描标准草案。1990年，IEEE组织和JTAG组织共同推出了IEEE 1149.1边界扫描标准［18,19］。
IEEE 1149.1定义了一种标准的边界扫描结构及其测试接口，其主要思想是：通过在内部逻辑之间，即边界上增加边界扫描单元，实现对状态的串行设定和读取，从而提供芯片级、板级、系统级的标准测试框架。边界扫描机制可以实现下列目标：
(1) 测试不同单元之间的连接；
(2) 测试单元的功能；
(3) 应用边界扫描寄存器完成其他测试功能，如伪随机测试、特征分析、静态测试等；
边界扫描机制提供了一种完整的、标准化的可测试性设计方法。自从边界扫描标准出现以来，市场上支持边界扫描机制及设计开发软件与日俱增，其应用越来越广泛。需要指出的是，边界扫描机制适用于集成度比较高的单元，对于集成度较低的而言，采用结构化可测试性设计方法有可能会得到更为优化的设计结。
第81贴【2004－8－12】：新的可测试性设计思想
随着科技与经济的发展，为提高产品的质量和竞争力，传统的纵向设计流程必然让位于“并行工程”设计。在并行工程设计环境下，可测试性技术的内涵与设计策略得到了拓展与丰富。在并行工程设计环境下，测试不仅包括了传统意义上的制造阶段以质量保证为目的的测试和使用阶段以诊断维修为目的的测试，而且还包含了产品设计实现阶段以设计验证为目的的测试，以及产品的概念设计和体系结构设计中的可测试性设计过程。并行工程设计环境下可测试性设计策略主要包括：系统可测试性的分级建模与描述策略、可测试性的递阶设计策略以及基于虚拟测试技术的可测试性设计验证策略。
第82贴【2004－8－13】：新的可测试性机制体系结构
90年代中期推出的递阶集成BIT（HIBIT：hierarchical and integrated BIT）是一种新型的系统级可测试性设计策略，它又被称为第四代的测试性设计技术。所谓HIBIT设计是指所设计的可测试性机制具备同系统一样的递阶层次结构，即具备包括系统级、子系统级（LRU）、电路板级、多芯片模块级（MCM）和芯片级的层次结构，不同层次的可测试性机制之间通过测试总线相连，实质上，HIBIT技术是边界扫描技术的一种延伸，在HIBIT中，板级测试利用IEEE 1149.1边界扫描标准进行，而设备级、系统级的测试则通过IEEE 1149.5 MTM总线进行。
采用分级递阶与集成可测试性机制便于进行“并行工程”的设计与开发，其主要优点是：便于测试性需求指标的分级分配；便于实现测试复用；便于实现并行分布式的测试进程，提高测试速度。实际上，HIBIT的最大特点就是引入了“并行过程”的设计思想，在HIBIT中采用了并行设计、可复用设计以及虚拟原型设计等并行工程设计方法，这是可测试性设计思想的一次飞跃。
第83贴【2004－8－14】：新的测试信息处理技术与故障诊断方法的应用
可测试性应用的关键在于对测试信息进行有效处理，而现有的测试信息处理方法存在故障诊断能力差、虚警率高等问题。为此，有必要将神经网络、专家系统等智能理论引入可测试性技术中，研究新型的测试信息处理技术与故障诊断方法，这是可测试性技术的未来研究重点之一。智能测试信息处理方法主要体现在三个方面：在测试信息的获取阶段，应用数据层信息融合的方法，对通过不同测试手段获取的测试信息进行证实与融合，提高测试信息获取的质量；在信息处理阶段，综合应用数据压缩方法、基于状态模型方法、谱分析以及神经网络方法等，提取准确表征被测对象故障状态的特征信息；在诊断决策阶段，应用马尔可夫模型、神经网络、专家系统等方法，并综合被测对象的环境信息及历史信息进行智能决策，尽可能地消除测试过程中存在的虚警问题，对故障进行精确定位。
第84贴【2004－8－16】：协议测试
协议测试已经成为计算机网络和分布式系统协议工程学中最活跃的领域之一。近年来，协议一致性测试技术得到了很好的发展和完善，与此同时，互操作测试和性能测试逐渐成为新的研究热点。
协议测试包括四种测试：
1)一致性测试（Conformance ）：检测所实现的系统与协议规范符合程度；
2)性能测试（Performance ）：检测协议实体或系统的性能指标（数据传输率、联接时间，执行速度、吞吐量、并发度等）；
3)互操作性测试（Interoperability ）：检测同一协议不同实现版本之间、或同一类协议（如电子邮件协议X.400和SMTP）不同实现版本之间互通能力和互连操作能力
4)坚固性测试（Robustness ）：检测协议实体或系统在各种恶劣环境下运行的能力(信道被切断、通信技术掉电、注入干扰报文等)。
延伸阅读
文章来源于领测软件测试网 https://www.ltesting.net/