本次交流目的：
通过一种有效的缺陷管理形式，来改善测试与开发的交互效率，降低交互成本，通过对有效缺陷的收集、整理和分析，使我们能够清楚的了解到软件的问题，提高测试周期可控性，测试活动可控性，真正体现测试在整个开发生命周期中的价值......
具体安排：
1：30-2：50 交流软件缺陷分析 3：10-4：30 交流软件缺陷应用
4：40-5：30 自由讨论
报名方法：在测试时代论坛的“交流会”栏目的报名贴中报名。谢谢！（主要是为了防止大家不同论坛有不同ID，不能实际显示到场人数），望大家理解。
具体乘车路线： 355，运通110，355支，小5路，小67路，749，375支，628等到双清路站下；726路，826路，331路，375路，307路，743路，951路，732支线，8 25路，731路，809路，722路到五道口站，还有轻轨五道口站。
注：关于第18期交流会报名作为嘉宾的朋友，我们希望你还能继续在这期做我们的嘉宾。谢谢！
注：测试交流会php?name=%C3%E2%B7%D1">免费参加，只收取租用的场地费，场地费用参会的同仁均摊，一般为10元钱，不能开发票。
文章来源于领测软件测试网 https://www.ltesting.net/
