• 软件测试技术
  • 软件测试博客
  • 软件测试视频
  • 开源软件测试技术
  • 软件测试论坛
  • 软件测试沙龙
  • 软件测试资料下载
  • 软件测试杂志
  • 软件测试人才招聘
    暂时没有公告

字号: | 推荐给好友 上一篇 | 下一篇

弹道参数计算 将造出3兆兆赫芯片

发布: 2007-6-13 20:02 | 作者: admin | 来源: | 查看: 38次 | 进入软件测试论坛讨论

领测软件测试网

美国Rochester大学的科学家们发明了一种新的“弹道参数计算”芯片设计,采用这种设计方法可以制造3000千兆赫(3兆兆赫)的芯片,而且发热量很小。

该大学计算机工程教授Marc Feldman表示,这种“弹道偏转晶体管(BDT)”设计所带来的变化是根本性的。标准晶体管不断缩小存在一个难以克服的问题。按照当前的晶体管设计,电容层在尺度极小的时候会出现问题,而BDT则没有电容层。

提出这个设计思路的该校研究生Quentin Diduck称BDT是在继电器、电子管和半导体之后技术进化轨迹的下一发展阶段。

据Rochester大学称,BDT利用电子倾向于“游离”的惯性将电子“弹”入选定的弹道,而不是用强制性外力将其放入合适的位置。正是采用这种方法,能耗要求大大降低。



延伸阅读

文章来源于领测软件测试网 https://www.ltesting.net/


关于领测软件测试网 | 领测软件测试网合作伙伴 | 广告服务 | 投稿指南 | 联系我们 | 网站地图 | 友情链接
版权所有(C) 2003-2010 TestAge(领测软件测试网)|领测国际科技(北京)有限公司|软件测试工程师培训网 All Rights Reserved
北京市海淀区中关村南大街9号北京理工科技大厦1402室 京ICP备10010545号-5
技术支持和业务联系:info@testage.com.cn 电话:010-51297073

软件测试 | 领测国际ISTQBISTQB官网TMMiTMMi认证国际软件测试工程师认证领测软件测试网