? 漏测分析举例
图 -1
* APAR 是描述缺陷属性的一个术语。
图 -1 以一个虚拟产品的 Lotus Notes 漏测缺陷数据库作为示例。在本例中，对一个漏测缺陷采用三个标签项来跟踪其特征数据。第一个标签项用于描述缺陷的详细数据，这些数据来自于缺陷跟踪工具，它们从缺陷跟踪工具到漏测分析工具的输入和转换最好是自动完成。此外，还有一个较大的属性域用来描述缺陷的历史和概要，本图中没有显示出来该域。
图 -2
延伸阅读
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